各相关学院：
学校获批设备更新项目购置的多功能缺陷荧光光谱仪和原位微区光谱采集系统已安装到位，为确保相关师生能更好地操作使用仪器，拟开展2台设备的使用培训工作，欢迎有使用需求的师生积极参加。培训有关事项通知如下：
一、培训时间及地点
1.多功能缺陷荧光光谱仪
时间：9月9日（周三）14:30
地点：分析测试中心503室
联系人：张老师，电话：18305215866
2.原位微区光谱采集系统
时间：9月13日（周天）9:30
地点：分析测试中心516室
联系人：王老师，电话：19952483371
二、设备简介
1.多功能缺陷荧光光谱仪
多功能缺陷荧光光谱仪适用于物理学、材料学、光学、半导体等应用领域，产品固有功能是用于：粉末、固体、薄膜、生物材料等样品的低温至高温区热释光三维光谱、二维极微弱热释光光谱测量，光释光三维光谱及曲线，余晖衰减曲线测量功能等；热释光动力学分析功能，直观获得陷阱深度、频率因子、动力学级数等参数；用于发光材料缺陷能级、缺陷密度，原位发光中心与热释光发光中心的比较研究、闪烁余辉的起源研究等。经调研，LTTL-3DS 型多功能缺陷荧光光谱仪能够测量固体发光材料三维光谱。
2.原位微区光谱采集系统
原位微区光谱采集系统集显微镜-光谱仪-激光-三维电位移台为一体，主要用于在微观上原位研究单个纳米颗粒的光学特性，排除了颗粒的集体效应和时空异质性对光与纳米物质相互作用的机理研究和应用研究的影响。能够在光学显微镜下定位单个纳米颗粒并研究其光学特性，且可以实现纳米结构的动态微区光学监测的仪器系统更有利于我们加深对光与纳米物质相互作用的机理研究和应用的探索，此外该系统除了进行样品表征，一定程度上还可以进行微区加工和操控。
实验室与设备管理处
（分析测试中心）
2026年9月9日